SX-3000シリーズ互換のコンパクトテストシステム。
SX-130EVテストシステムは、主にDC測定をターゲットとしたコンパクトで低価格なテストシステムです。テストシステムの電源部と測定資源を格納する測定部が分離した構造となっているため、測定部をDUTの直近に配置することで接続ケーブル長を短縮することができます。
資源モジュールの最大搭載数 ７スロット。
SX-3000シリーズのモジュールを共通搭載。
SX-3000シリーズを継承互換しているので、デバイス開発用、評価用テスタとして、SX-3000シリーズでの量産テストを視野に入れた検証を効率的に行うことができます。
IC だけではなく、電気的なパフォーマンステストを行いたい製品に対応することも可能。
PXIバスに対応したモジュールを使用した測定も可能。
高電流・高電圧系の追加によりDiscrete 系の静的特性/動的特性検査に対応。
※電源部と制御PCを19インチラックに格納可能（Option）です。
■対象デバイス
IGBTモジュール,IPM,SiC,GaN
Power系MOS,ダイオード
SX3000互換 コンパクトモデル
